SN74LVT8980DW
Этот товар недоступен в выбранной валюте.
в наличии (удаленный склад)
В оформлении на заказ
Нет в наличии
Описание
SN74LVT8980DW от Texas Instruments
Общее описание
SN74LVT8980DW — это интегральная схема контроллера тестовой шины, которая предназначена для управления и мониторинга тестовых сигналов в сложных цифровых системах. Схема представлена в корпусе 24-SOIC (7.50 мм шириной), что делает её удобной для монтажа на печатные платы.
Преимущества
- Широкий диапазон напряжения питания (2.7V - 3.6V): Подходит для различных схем с низким напряжением.
- Надежность и стабильность: Работа в широком диапазоне температур от -40°C до 85°C.
- Удобство монтажа: Поверхностный монтаж упрощает интеграцию в разрабатываемые устройства.
Недостатки
- Устаревшая модель: Данный компонент имеет статус "устаревшего", что может затруднить его приобретение в будущем.
- Ограниченное количество аналогов: Не все аналоги могут полностью соответствовать параметрам данной модели.
Типовое использование
- Контроль и мониторинг тестовых сигналов: В системах цифровых вычислений и обработки данных.
- Диагностика и отладка: В сложных цифровых системах для тестирования и верификации работы схем.
Рекомендации по применению
- Промышленные и коммерческие системы: Рекомендуется для использования в системах, требующих надежного управления тестовыми сигналами.
- Комплексы автоматизированного тестирования: Подходит для реализации в автоматических тестовых установки (АТУ).
Основные технические характеристики
- Производитель: Texas Instruments
- Модель: SN74LVT8980DW
- Тип корпуса: 24-SOIC (7.50 мм шириной)
- Диапазон напряжения питания: 2.7V - 3.6V
- Количество разрядов: 8
- Рабочая температура: -40°C ~ 85°C
- Тип монтажа: Поверхностный монтаж
Возможные аналоги
- 74LVT8980 от других производителей: Работают на тех же напряжениях и имеют схожие функциональные возможности.
- IEE74LVT8980 от IE Electronics: Возможен как замена с минимальными изменениями в дизайне печатной платы.
Этот контроллер тестовой шины SN74LVT8980DW является надежным компонентом для контроля и диагностики цифровых систем и систем автоматического тестирования.
Описание товара
- Datasheet [2]: Перейти
Упс!
Извините, но кажется, некоторые товары недоступны в выбранном количестве.
