SN74BCT8374ADW
Этот товар недоступен в выбранной валюте.
в наличии (удаленный склад)
В оформлении на заказ
Нет в наличии
Описание
SN74BCT8374ADW от Texas Instruments

Общее описание: SN74BCT8374ADW — это высокоэффективное сканирующее тестовое устройство с триггерами типа D от компании Texas Instruments. Этот компонент предназначен для использования в сложных логических схемах и обеспечивает надежную работу даже в самых требовательных приложениях.
Преимущества:
- Высокая скорость переключения.
- Надежное выполнение логических операций.
- Поддержка тестовых режимов, что облегчает диагностику и тестирование схем.
Недостатки:
- Требует точного соблюдения электрических характеристик для стабильной работы.
- Ограниченный рабочий температурный диапазон.
Типовое использование:
- Тестирование и диагностика сложных цифровых схем.
- Применения, требующие высокой надежности и точности.
- Встраиваемые системы и аппаратные платформы.
Рекомендации по применению:
- Используйте этот компонент в условиях, предполагающих высокую точность и надежность.
- Соблюдайте рекомендованный диапазон напряжения питания (4.5V ~ 5.5V).
- Учитывайте рабочий температурный диапазон (0°C ~ 70°C) при проектировании схем.
Основные технические характеристики:
- Тип логики: Сканирующее тестовое устройство с триггерами типа D.
- Напряжение питания: 4.5V ~ 5.5V.
- Количество бит: 8.
- Рабочий температурный диапазон: 0°C ~ 70°C.
- Монтаж: Поверхностный монтаж (Surface Mount).
- Корпус: 24-SOIC (ширина 7.50 мм).
- Упаковка: 24-SOIC.
Возможные аналоги:
- SN74BCT8374AN: Альтернативный номер детали с аналогичными характеристиками, но в другом корпусе (PDIP).
- SN74ALS374ADWR: Еще один вариант из линейки с подобными функциональными возможностями.
Используйте SN74BCT8374ADW для создания надежных и производительных электронных схем, обеспечивая правильное тестирование и диагностику в ваших проектах.
Описание товара
- Datasheet [2]: Перейти
Упс!
Извините, но кажется, некоторые товары недоступны в выбранном количестве.
