DS2174Q+

Описание для DS2174Q+ от Analog Devices / Maxim Integrated

Общее описание:

DS2174Q+ - это специализированная микросхема тестирования битовой ошибки (EBERT) от компании Analog Devices / Maxim Integrated. Она предназначена для тестирования и мониторинга развертываемых цифровых телекоммуникационных систем, предоставляя точные и надежные данные по частоте ошибок в передаваемой информации.

Преимущества:

• Высокая точность: Обеспечивает точное измерение частоты ошибок, что необходимо для качественного мониторинга телекоммуникационных каналов.
• Широкий диапазон температур: Поддерживает широкий диапазон рабочих температур, обеспечивая стабильную работу в различных условиях.
• Универсальность применения: Может использоваться в сетях E1, J1 и T1.
• Компактность: Устройство выполнено в компактном корпусе PLCC, что упрощает его интеграцию в существующие системы.

Недостатки:

• Устаревшее изделие: Модель является устаревшей и может быть снята с производства, что может отразиться на доступности и поддержке.

Типовое использование:

• Мониторинг цифровых телекоммуникационных систем.
• Тестирование и калибровка оборудования передачи данных.
• Обнаружение и анализ ошибок в каналах связи.

Рекомендации по применению:

• Телевизионные сети: Использовать для мониторинга каналов в телевизионных сетях для повышения качества передачи.
• Телефония: Применять для проверки качества и надежности телефонных линий связи.
• Цифровые сети: Подходит для тестирования и анализа цифровых сетей передачи данных.

Основные технические характеристики:

• Функция: Усовершенствованный тестер битовой ошибки (EBERT)
• Интерфейс: Поддерживает E1, J1 и T1
• Количество схем: 1
• Напряжение питания: 3V ~ 3.6V
• Потребляемый ток: 50mA
• Рабочая температура: 0°C ~ 70°C
• Монтаж: Поверхностный монтаж (SMT)
• Корпус: 44-контактный корпус PLCC (16.59x16.59 мм)

Возможные аналоги:

• DS2174 от Dallas Semiconductor
• DS2151Q от Maxim Integrated (может требовать адаптации для полного заместительства)

Эти альтернативные компоненты также предлагают аналогичную функциональность для тестирования и мониторинга битовой ошибки в телекоммуникационных системах.